利用DT890数字万用表检查晶振

笔者总结出一种利用DT890数字万用表检查晶体的方法，现介绍如下：

首先将万用表置20MΩ电阻档，按常规方法检查晶体看其有无漏电短路，然后将DT890数字万用表置CAP：2000PF档，将被测晶体插于Cx测试孔。

①．若测得晶体的匣体电容Co比正常值小许多，甚至为0pF，说明被测晶体引极内部断路或晶片出现碎裂(若测得匣体电容Co偏离正常值，说明被测晶体内部可能发生变化)。

②．若测得其电容值为溢出“1”，说明晶体漏电或短路。

③．若测得电容值不稳定，说明晶体引极接触不良或品片松动脱落。



实例：

DT890数字万用表置CAP：2000pF档

①．一只32．768KHz石英表晶振实测匣体电容Co为1pF。

②．DRU晶体1000KHz实测匣体电容Co为2pF。